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Improved Double Pulse Test for Accurate Dynamic Characterization of Medium Voltage SiC Devices
用于中压SiC器件精确动态特性的改进双脉冲测试
相关领域
碳化硅
电压
MOSFET
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Haiguo Li; Zihan Gao; Ruirui Chen; Fred Wang 出版日期:2022-09-29 |
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