Fabrication and Electrical Characterization of Ti/p-Si Metal Semiconductor Schottky Structures at Low Temperature

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标题	Fabrication and Electrical Characterization of Ti/p-Si Metal Semiconductor Schottky Structures at Low Temperature Ti/p-Si金属半导体肖特基结构的低温制备及电学表征相关领域热离子发射肖特基势垒肖特基二极管大气温度范围半导体材料科学化学二极管矩形势垒凝聚态物理肖特基效应分析化学（期刊）光电子学热力学物理电子色谱法量子力学
网址	https://doi.org/10.1007/s11664-022-09955-3
DOI	10.1007/s11664-022-09955-3 doi
其它	期刊：Journal of Electronic Materials 作者：Hatice ASIL UĞURLU 出版日期：2022-09-30
求助人	南溪在 2024-10-01 11:01:18 发布自四川，悬赏 10 积分
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