High-Frequency Characterization and Modeling of Low and High Voltage FinFETs for RF SoCs

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标题	High-Frequency Characterization and Modeling of Low and High Voltage FinFETs for RF SoCs 用于RF SOC的低压和高压FinFETs的高频特性和建模相关领域无线电频率表征（材料科学）电气工程电压电子工程计算机科学材料科学工程类纳米技术
网址	https://doi.org/10.1109/edtm55494.2023.10103010
DOI	10.1109/edtm55494.2023.10103010 doi
其它	期刊：作者：Yogesh Singh Chauhan; Anirban Kar; Shivendra Singh Parihar; Jun Z. Huang; Huilong Zhang; et al 出版日期：2023-03-07
求助人	Penn 在 2024-02-23 12:40:17 发布自上海，悬赏 10 积分
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