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![]() 分析铁电鳍场效应晶体管中总电离剂量引起的记忆窗口退化
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期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Sola Woo; Khandker Akif Aabrar; Suman Datta; Shimeng Yu 出版日期:2024-03-01 |
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