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 Precise Determination of the Valence-Band Edge in X-Ray Photoemission Spectra: Application to Measurement of Semiconductor Interface Potentials X射线光电子能谱价带边缘的精确测定及其在半导体界面电位测量中的应用
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期刊：Physical Review Letters 作者：E. A. Kraut; R. W. Grant; J. R. Waldrop; S. P. Kowalczyk 出版日期：1980-06-16 |
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