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TCAD Simulation of the Effect of Buffer Layer Parameters on Single Event Burn-Out in p-GaN Gate HEMTs
缓冲层参数对p-GaN栅极HEMTs单层烧毁影响的TCAD模拟
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:G X Zhang; Shenglei Zhao; Zhizhe Wang; Xiufeng Song; Shuang Liu; et al 出版日期:2024-05-27 |
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