标题 |
OPC model accuracy study using high volume contour based gauges and deep learning on memory device
使用基于高体积轮廓的仪表和存储器设备上的深度学习的OPC模型精度研究
相关领域
过度拟合
计算机科学
深度学习
人工神经网络
正规化(语言学)
体积热力学
人工智能
软件
量子力学
物理
程序设计语言
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DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Young‐Seok Kim; SeIl Lee; Zhenyu Hou; Yiqiong Zhao; Meng Liu; et al 出版日期:2019-03-26 |
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