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 A statistical test suite for random and pseudorandom number generators for cryptographic applications 用于密码应用的随机数和伪随机数发生器的统计测试套件
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期刊：National Institute of Standards and Technology (U.S.) 作者：Andrew L. Rukhin; Juan Soto; James R. Nechvatal; Miles E. Smid; Elaine B. Barker 出版日期：2010-01-01 |
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