标题 |
A Transmission Electron Microscopy Study on the Crystallization Behavior of In-Sb-Te Thin Films
In-Sb-Te薄膜晶化行为的透射电镜研究
相关领域
高分辨率透射电子显微镜
材料科学
透射电子显微镜
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期刊:Han-guk hyeonmigyeong hakoeji/Applied microscopy 作者:Chung Soo Kim; Eun Tae Kim; Jeong Yong Lee; Yong Tae Kim 出版日期:2008-01-01 |
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