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 RF SOI CMOS technology on 1st and 2nd generation trap-rich high resistivity SOI wafers 第一代和第二代富含陷阱的高电阻率SOI晶片上的RF SOI CMOS技术
相关领域
绝缘体上的硅
材料科学
薄脆饼
光电子学
硅
电气工程
工程类
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期刊：Solid-State Electronics 作者：Babak Kazemi Esfeh; S. Makovejev; D. Basso; Eric Desbonnets; Valeriya Kilchytska; et al 出版日期：2016-10-18 |
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