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Self-limiting oxidation of Si nanowires
硅纳米线的自限性氧化
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena 作者:H. I. Liu; D. K. Biegelsen; N. M. Johnson; F. A. Ponce; R. F. W. Pease 出版日期:1993-11-01 |
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