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Universal tunneling behavior in technologically relevant P/N junction diodes
技术相关P/N结二极管中的通用隧穿行为
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:P. M. Solomon; J. Jopling; D.J. Frank; C. D'Emic; O. Dokumaci; et al 出版日期:2004-05-06 |
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