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Diagnosis for Band Topology under Crystal Symmetries Based on Bulk Measurements
基于体测量的晶体对称能带拓扑诊断
相关领域
齐次空间
拓扑(电路)
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期刊:Physical Review Letters 作者:Shiyin Jia; Shiqi Li; Junzheng Hu; Renwen Huang; Jing Li; et al 出版日期:2025-01-13 |
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