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Improved Ferroelectricity and Endurance of Hf0.5Zr0.5O2 Thin Films in Low Thermal Budget with Novel Bottom Electrode Doping Technology
新型底部电极掺杂技术提高Hf0.5Zr 0.5 O2薄膜的低热收支铁电性和耐久性
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期刊:Advanced Materials Interfaces 作者:Guoliang Tian; Gaobo Xu; Huaxiang Yin; Gangping Yan; Zhaohao Zhang; et al 出版日期:2022-07-28 |
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