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 Regulated dual defects of ligand defects and lattice defects in UIO-66 for ultra-trace simultaneous detection and removal of heavy metal ions UIO-66中配体缺陷和晶格缺陷的调节双重缺陷用于重金属离子的超痕量同时检测和去除
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期刊：Materials Chemistry Frontiers 作者：Dahui An; Shan Jin; Junhua Zheng; Meng Liao; Long Chen 出版日期：2024-12-06 |
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