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Depth sectioning combined with atom-counting in HAADF STEM to retrieve the 3D atomic structure
HAADF茎中深度切片结合原子计数检索三维原子结构
相关领域
Atom(片上系统)
扫描透射电子显微镜
分辨率(逻辑)
纳米棒
材料科学
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期刊:Ultramicroscopy 作者:M. Alania; Thomas Altantzis; Annick De Backer; Iván Lobato; Sara Bals; et al 出版日期:2016-11-08 |
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