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Mechanisms of radiation damage in beam‐sensitive specimens, for TEM accelerating voltages between 10 and 300 kV
TEM加速电压在10和300 kV之间的束敏感样品中的辐射损伤机制
相关领域
辐射损伤
阻止力
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期刊:Microscopy Research and Technique 作者:R.F. Egerton 出版日期:2012-07-17 |
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