标题 |
Defect detection of MicroLED with low distinction based on deep learning
基于深度学习的低分辨微LED缺陷检测
相关领域
计算机科学
保险丝(电气)
人工智能
棱锥(几何)
卷积神经网络
特征(语言学)
模式识别(心理学)
深度学习
可靠性(半导体)
残余物
精确性和召回率
计算机视觉
语言学
哲学
物理
功率(物理)
光学
算法
量子力学
电气工程
工程类
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Optics and Lasers in Engineering 作者:Meiyun Chen; Jinbiao Chen; Cheng Li; Qianxue Wang; Kiyoshi Takamasu 出版日期:2024-02-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|