标题 |
In-plane grain boundary induced defect state in hierarchical NiCo-LDH and effect on battery-type charge storage
分层NiCo-LDH的面内晶界诱导缺陷态及其对蓄电池型电荷储存的影响
相关领域
晶界
材料科学
密度泛函理论
电化学
层状双氢氧化物
电容
化学物理
电极
化学工程
纳米技术
凝聚态物理
化学
复合材料
计算化学
微观结构
物理化学
氢氧化物
物理
工程类
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Nano Research 作者:Jinjin Ban; Xiaohan Wen; Honghong Lei; Guoqin Cao; Xinhong Liu; et al 出版日期:2022-06-27 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|