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  Detection of Au+ Ions During Fluorine Gas-Assisted Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) for the Complete Elemental Characterization of Microbatteries 用于微电池完整元素表征的氟气辅助飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）中Au+离子的检测
相关领域
材料科学
二次离子质谱法
离子
质谱法
分析化学（期刊）
氟
微电子
无定形固体
飞行时间
飞行时间质谱
溅射
电离
纳米技术
薄膜
化学
色谱法
有机化学
冶金
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期刊：ACS Applied Materials & Interfaces 作者：Agnieszka Priebe; Jordi Sastre; Moritz H. Futscher; Jakub Jurczyk; Marcos V. Puydinger dos Santos; et al 出版日期：2021-08-17 |
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