标题 |
X-Ray Diffraction Techniques for Mineral Characterization: A Review for Engineers of the Fundamentals, Applications, and Research Directions
相关领域
表征(材料科学)
材料科学
残余应力
衍射
纳米技术
冶金
物理
光学
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其它 |
期刊: 作者:Asif Ali; Yi Wai Chiang; Rafael M. Santos 出版日期:2021-12-27 |
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