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Deep‐level transient spectroscopy: A new method to characterize traps in semiconductors
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其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:D. V. Lang 出版日期:1974 |
求助人 |
上官志鹏 在
2021-07-15 10:10:08 发布,悬赏 10 积分
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