标题 |
Classification of Defect Types in SLM Ti-6Al-V4 by X-ray Refraction Topography
相关领域
X射线
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网址 | |
DOI |
10.1520/MPC20190080
doi
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其它 |
期刊:Materials Performance and Characterization 作者:René Laquai; Bernd Randolf Müller; Galina Kasperovich; Guillermo Requena; Jan Haubrich; Giovanni Bruno 出版日期:2020 |
求助人 |
xiaolizi 在
2021-08-26 10:53:02 发布,悬赏 30 积分
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