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 Mobile ions entering the IGBT gate oxide - electrical detection and failure localization by lock-in thermography 进入IGBT栅氧化层的移动离子——锁定热成像的电检测和故障定位
相关领域
材料科学
光电子学
栅氧化层
离子
电场
绝缘栅双极晶体管
半导体
硅
电气工程
电压
化学
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物理
有机化学
量子力学
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