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 Van der Waals integration inch-scale 2D MoSe2 layers on Si for highly-sensitive broadband photodetection and imaging 用于高灵敏度宽带光电探测和成像的Si上的Van der Waals集成英寸尺度2D MoSe2层
相关领域
光探测
材料科学
响应度
光电子学
异质结
光电探测器
范德瓦尔斯力
比探测率
硫系化合物
带隙
纳米技术
化学
分子
有机化学
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| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Nano Research 作者：Yangbo Wu; Shuo‐En Wu; Jinjin Hei; Longhui Zeng; Pei Lin; et al 出版日期：2023-06-08 |
| 求助人 | |
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