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 High-energy x-ray photoelectron spectroscopy spectra of SiO2 measured by Cr Kα 用Cr K α测量SiO2的高能x射线光电子能谱
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期刊：Surface Science Spectra 作者：A. Vanleenhove; I. Hoflijk; I. Vaesen; C. Zborowski; Kateryna Artyushkova; et al 出版日期：2022-05-03 |
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