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Effect of LET and Voltage on Heavy-ion Induced Charge Collection in Bulk FinFET Device
LET和电压对体FinFET器件中重离子诱导电荷收集的影响
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期刊: 作者:Yang Bai; Suge Yue; Tongde Li; Yu Sun; Jingshuang Yuan; et al 出版日期:2023-05-24 |
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