标题 |
Atomic‐Scale Fabrication of In‐Plane Heterojunctions of Few‐Layer MoS2 via In Situ Scanning Transmission Electron Microscopy
原位扫描透射电子显微镜原子尺度制备几层MoS2面内异质结
相关领域
材料科学
扫描透射电子显微镜
异质结
电子能量损失谱
纳米电子学
纳米技术
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Valleytronics公司
光电子学
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透射电子显微镜
高分辨率透射电子显微镜
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过渡金属
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病理
有机化学
医学
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期刊:Small 作者:Kuo‐Lun Tai; Chun‐Wei Huang; Ren‐Fong Cai; Guan‐Min Huang; Yi‐Tang Tseng; et al 出版日期:2019-12-11 |
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