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 End-to-end aberration correction network for enhancing miniature microscope resolution 提高微型显微镜分辨率的端到端像差校正网络
相关领域
显微镜
端到端原则
光学
计算机科学
分辨率（逻辑）
材料科学
人工智能
物理
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期刊：Optics and Lasers in Engineering 作者：Yunfeng Nie; Runmu Su; Jingang Zhang; Heidi Ottevaere 出版日期：2024-09-09 |
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