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Bias Temperature Instability of a-IGZO TFTs Under Repeated Stress and Recovery
a-IGZO薄膜晶体管在重复应力和恢复下的偏压温度不稳定性
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期刊:Journal of Electronic Materials 作者:Yonghee Jeong; Hyunjin Kim; Jungyeop Oh; Sung‐Yool Choi; Hamin Park 出版日期:2023-04-04 |
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