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 Comparative studies on the stability of polymer versus SiO2 gate dielectrics for pentacene thin-film transistors 并五苯薄膜晶体管聚合物与SiO2栅电介质稳定性的比较研究
相关领域
材料科学
薄膜晶体管
并五苯
磁滞
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物理
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Do Kyung Hwang; Kimoon Lee; Jae Hoon Kim; Seongil Im; Ji Hoon Park; et al 出版日期：2006-08-28 |
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