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A Normally-Off GaN MIS-HEMT Fabricated Using Atomic Layer Etching to Improve Device Performance Uniformity for High Power Applications
使用原子层蚀刻制造的常关GaN MIS-HEMT以提高高功率应用的器件性能均匀性
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高电子迁移率晶体管
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Tsung-Ying Yang; Huuan-Yao Huang; Yan-Kui Liang; Jui-Sheng Wu; Mei-Yan Kuo; et al 出版日期:2022-08-26 |
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