标题 |
Radiation-Induced Defect Reactions in Tin-Doped Ge Crystals
掺锡锗晶体中的辐射诱导缺陷反应
相关领域
材料科学
锡
空位缺陷
兴奋剂
退火(玻璃)
辐照
接受者
大气温度范围
深能级瞬态光谱
杂质
晶体缺陷
彭宁离子阱
分析化学(期刊)
电子
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结晶学
硅
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期刊:Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena 作者:В. П. Маркевич; А. R. Peaker; Bruce Hamilton; V. V. Litvinov; Yurii M. Pokotilo; et al 出版日期:2011-08-01 |
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