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![]() 基于迭代残差拟合的高压电缆接头三维缺陷检测
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期刊:Measurement Science and Technology 作者:Zhihao Zheng; Jiayin Bian; Yuqun Gao; Shuqi He; Wanzhong Liu; et al 出版日期:2022-11-08 |
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