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Influence of Si-Doping on 45 nm Thick Ferroelectric ZrO2 Films
Si掺杂对45 nm厚ZrO2铁电薄膜的影响
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期刊:ACS applied electronic materials 作者:Bohan Xu; Patrick D. Lomenzo; Alfred Kersch; Thomas Mikolajick; Uwe Schroeder 出版日期:2022-07-05 |
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