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 Wake-up-free ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 thin films characterized by precession electron diffraction 无唤醒铁电Hf0.5Zr 0.5 O2薄膜的旋进电子衍射表征
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期刊：Acta Materialia 作者：Teng-Jan Chang; Hsing-Yang Chen; Chin-I Wang; Hsin-Chih Lin; Chen-Feng Hsu; et al 出版日期：2023-01-14 |
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