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Atomic Force Microscopy – A Powerful Tool for Studying Contact Electrification
原子力显微镜——研究接触带电的有力工具
相关领域
材料科学
接触带电
原子力显微镜
纳米技术
机制(生物学)
半导体
工程物理
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复合材料
光电子学
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物理
量子力学
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期刊:Advanced materials and technologies 作者:Nan Wang; Xiubo Zhao 出版日期:2022-12-04 |
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