标题 |
High Breakdown Voltage P-GaN Gate HEMTs with Threshold Voltage of 7.1 V
阈值电压为7.1 V的高击穿电压P-GaN栅极HEMT
相关领域
光电子学
材料科学
击穿电压
阈值电压
电压
电气工程
宽禁带半导体
氮化镓
电击穿
逻辑门
晶体管
工程类
纳米技术
电介质
图层(电子)
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其它 |
期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Siheng Chen; Peng Cui; Xin Luo; Liu Wang; Jiacheng Dai; et al 出版日期:2024-01-01 |
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