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 A Super-Resolution Training Paradigm Based on Low-Resolution Data Only to Surpass the Technical Limits of STEM and STM Microscopy 基于低分辨率数据的超分辨率训练范式，只为超越STEM和STM显微镜的技术极限
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期刊：2022 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW) 作者：Bjørn Møller; Jan Pirklbauer; Marvin Klingner; Peer Kasten; Markus Etzkorn; et al 出版日期：2023-06-01 |
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