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Interrelation between ferroelectric properties and defects based on low-frequency noise analysis of HZO ferroelectric capacitor
基于HZO铁电电容器低频噪声分析的铁电性能与缺陷的相互关系
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Seunghee Jin; Juye Jeon; Min Jung Kim; Kiseok Heo; Jeong Hun Kim; et al 出版日期:2023-04-17 |
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