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Mapping Characterization of SnO2:F Transparent Conductive Oxide Layers by Ellipsometry Technique
SnO2:F透明导电氧化物层的椭偏映射表征
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Yuichiro Sago; Hiroyuki Fujiwara 出版日期:2012-10-01 |
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