标题 |
Silicon MEMS components: a fatigue life assessment approach
硅MEMS元件的疲劳寿命评估方法
相关领域
耐久性
硅
材料科学
微电子机械系统
疲劳试验
结构工程
疲劳极限
断裂(地质)
可靠性工程
复合材料
工程类
纳米技术
冶金
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DOI | |
其它 |
期刊:Microsystem Technologies 作者:A. Varvani‐Farahani 出版日期:2005-02-01 |
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