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Angle and wavelength resolved light scattering measurement of optical surfaces and thin films
光学表面和薄膜的角度和波长分辨光散射测量
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:Sven Schröder; David Unglaub; Alexander von Finck; Matthias Hauptvogel; Marcus Trost; et al 出版日期:2013-09-07 |
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