标题 |
Characterization of High Entropy Oxide Thin Films by High-Resolution STEM-EELS
高分辨率STEM-EELS表征高熵氧化物薄膜
相关领域
表征(材料科学)
高分辨率
材料科学
氧化物
纳米技术
冶金
地质学
遥感
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DOI |
10.1093/micmic/ozad067.916
doi
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其它 |
期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Sai Venkata Gayathri Ayyagari; Leixin Miao; Matthew J. Webb; John T. Heron; Nasim Alem 出版日期:2023-07-22 |
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