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 Improved negative bias stability of sol–gel processed Ti-doped SnO2 thin-film transistors 溶胶——凝胶处理Ti掺杂SnO2薄膜晶体管负偏压稳定性的改善
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期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Won-Yong Lee; Hyunjae Lee; Seung-Hyun Ha; Chun Geun Lee; Jin-Hyuk Bae; et al 出版日期：2020-10-09 |
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