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 Quantify Device EM Reliability Using Weibullian “k-out-of-N” Redundant System with Load Sharing 使用具有负载共享的Weibullian“k-out-of-N”冗余系统量化设备EM可靠性
相关领域
可靠性（半导体）
计算机科学
可靠性工程
负载分担
分布式计算
工程类
物理
功率（物理）
量子力学
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期刊：2022 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) 作者：Feng-Bin Sun; Yang Sun 出版日期：2022-01-24 |
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