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Case Study—Doping Profile Analysis for 30 nm DRAM Devices Using SCM and SSRM
案例研究-使用SCM和SSRM的30 nm DRAM器件的掺杂分布分析
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期刊:Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者:Hsiu-Pin Chen; Jian-Shing Luo; Ching-Shan Sung; Chen-Kang Wei; Kai-Lun Chiang; et al 出版日期:2015-11-01 |
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