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Levet-set-based inverse lithography under random field shape uncertainty in a vector Hopkins imaging model
矢量Hopkins成像模型中随机场形状不确定性下基于Levet-set的逆光刻
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期刊: 作者:Xiaofei Wu; Tim Fühner; Andreas Erdmann; Edmund Y. Lam 出版日期:2017-01-01 |
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