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Etching Characteristics and Changes in Surface Properties of IGZO Thin Films by O2 Addition in CF4/Ar Plasma
CF4/Ar等离子体中添加O2对IGZO薄膜的刻蚀特性及表面性质的变化
相关领域
X射线光电子能谱
蚀刻(微加工)
材料科学
薄膜
表面粗糙度
等离子体刻蚀
工作职能
等离子体
分析化学(期刊)
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期刊:Coatings 作者:Chea-Young Lee; Young-Hee Joo; Minsoo P. Kim; Doo‐Seung Um; Chang-Il Kim 出版日期:2021-07-29 |
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