标题 |
XPS study of single crystal Ge-Si alloys
单晶Ge-Si合金的XPS研究
相关领域
材料科学
X射线光电子能谱
结晶学
锗
分析化学(期刊)
单晶
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DOI | |
其它 |
期刊:Solid State Communications 作者:M.R. Arghavani; R. Braunstein; G. Chalmers; D Shirun; P Yang 出版日期:1989-08-01 |
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